國立臺灣大學 材料科學與工程學系暨研究所

• 型號: FEI Tecnai G2 F20
• 購入年份: 2009-10-26
• 預約網址: http://140.112.32.205/NTU_MSE/waInstrument/waFront/index.aspx

負責老師：

楊哲人

技術員：

陳學人

連絡電話：

02-33661348

所在位置：

工綜128

特性：

1. 可進行材料試樣微區影像分析，包含收集高解析影像、明視野像、暗視野像、電子繞射圖樣以及EDX微區定性/半定量成分分析。
2. 配有高角度環場暗視野像偵測器，可收集Z對比之微區影像，搭配EDX可以進行EDX Mapping以及EDX line-scan 。
3. 本設備加購Tomography試片載具，將連續拍攝之微區影像重構成三維度之物件