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首頁 navigate_next 儀器設備 navigate_next 儀器設備 navigate_next 高功率X光繞射分析儀(XRD)

高功率X光繞射分析儀(XRD)

主要規格

1.最高功率:18W (60kV-300mA)

2.試片載座:

   a.標準試片載座

   b.多工試片載座

   c.薄膜試片載座

   d.高溫試片載座

   e.小角散射試片載座

3.X光光源:旋轉陽極,銅靶

4.水平式量角器

5.CBO多工全自動光學切換系統:可以選用聚焦光束或平行光束

6.掃描方式:2θ/ω(Out-of-plane掃描),2θχ/φ(In-Plane掃描) 

主要功能

1.X光繞射分析(材料相鑑定、結晶顆粒大小分析、結晶度、定量…)

2.薄膜低掠角掃描

3.殘留應力分析

4.極圖分析

5.高解析Rocking Curve分析

6.全反射分析

7.倒置晶格面掃描

8.In-Plane分析

9.高溫X光繞射分析

10.小角散射分析

申請服務辦法

1.請到臺大材料系預約系統中預約

2.每月25日10:00開始開放下個月的預約時段,當月有空檔可隨時預約。 

3.底色為橘色時段代表有專人陪同,其他時段需自行操作。

4.取消預約需在二天前自行上網取消,否則除非特殊狀況(如天災),費用照計。

注意事項

1.無法分析液態樣品

2.樣品厚度小於8mm

收費標準

1.材料系內自行操作:500元/小時

2.材料系內陪同操作:950元/小時

3.工學院內陪同操作:1500元/小時

3.校內其他學院陪同操作:1500元/小時

4.校外研究單位陪同操作:2500元/小時

5.廠商陪同操作:5000元/小時

聯絡方式

負責教授:      薛人愷 教授 02-33664533 E-Mail:rkshiue@ntu.edu.tw

技術員:         高崇源 先生 02-33665241 E-Mail:kcyuan@ntu.edu.tw 

儀器放置地點:台灣大學工學院綜合大樓118室

自行操作鑑定辦法

壹、通過本儀器自行操作資格:能夠掌控一切事務,可於任何時間自行操作,唯夜間及假日必須事先向技術員提出申請,經指導教授同意後方可使用儀器。。

貳、參加鑑定資格

      一、輻防測驗及格者。

      二、接受陪同操作滿6小時。(以計費登記簿為準)。

參、鑑定時間由受鑑者提出,再由技術員公告時間。

肆、考試分筆試及實作:

      一、筆試80分以上者方可參加實作考試。

      二、實作每人15分鐘,每超過1分鐘扣5分,80分以上及格。

      三、實作評分標準:

            1.儀器操作:80%,重大錯誤(有損儀器可能)每次扣30分。

                                      較小錯誤(無害儀器可能)每次扣5~10分。

            2.純熟度:20%