高功率X光繞射分析儀(XRD)
| 主要規格 |
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1.最高功率:18W (60kV-300mA) 2.試片載座: a.標準試片載座 b.多工試片載座 c.薄膜試片載座 d.高溫試片載座 e.小角散射試片載座 3.X光光源:旋轉陽極,銅靶 4.水平式量角器 5.CBO多工全自動光學切換系統:可以選用聚焦光束或平行光束 6.掃描方式:2θ/ω(Out-of-plane掃描),2θχ/φ(In-Plane掃描) |
| 主要功能 |
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1.X光繞射分析(材料相鑑定、結晶顆粒大小分析、結晶度、定量…) 2.薄膜低掠角掃描 3.殘留應力分析 4.極圖分析 5.高解析Rocking Curve分析 6.全反射分析 7.倒置晶格面掃描 8.In-Plane分析 9.高溫X光繞射分析 10.小角散射分析 |
| 申請服務辦法 |
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1.請到臺大材料系預約系統中預約 2.每月25日10:00開始開放下個月的預約時段,當月有空檔可隨時預約。 3.底色為橘色時段代表有專人陪同,其他時段需自行操作。 4.取消預約需在二天前自行上網取消,否則除非特殊狀況(如天災),費用照計。 |
| 注意事項 |
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1.無法分析液態樣品 2.樣品厚度小於8mm |
| 收費標準 |
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1.材料系內自行操作:500元/小時 2.材料系內陪同操作:950元/小時 3.工學院內陪同操作:1500元/小時 3.校內其他學院陪同操作:1500元/小時 4.校外研究單位陪同操作:2500元/小時 5.廠商陪同操作:5000元/小時 |
| 聯絡方式 |
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負責教授: 薛人愷 教授 02-33664533 E-Mail:rkshiue@ntu.edu.tw 技術員: 高崇源 先生 02-33665241 E-Mail:kcyuan@ntu.edu.tw 儀器放置地點:台灣大學工學院綜合大樓118室 |
| 自行操作鑑定辦法 |
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壹、通過本儀器自行操作資格:能夠掌控一切事務,可於任何時間自行操作,唯夜間及假日必須事先向技術員提出申請,經指導教授同意後方可使用儀器。。 貳、參加鑑定資格 一、輻防測驗及格者。 二、接受陪同操作滿6小時。(以計費登記簿為準)。 參、鑑定時間由受鑑者提出,再由技術員公告時間。 肆、考試分筆試及實作: 一、筆試80分以上者方可參加實作考試。 二、實作每人15分鐘,每超過1分鐘扣5分,80分以上及格。 三、實作評分標準: 1.儀器操作:80%,重大錯誤(有損儀器可能)每次扣30分。 較小錯誤(無害儀器可能)每次扣5~10分。 2.純熟度:20% |